• Reactive Ion Etching System rie Failure Analysis material baseado em silicone Etching INP temperatura normal Etching SIC material Etching
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Reactive Ion Etching System rie Failure Analysis material baseado em silicone Etching INP temperatura normal Etching SIC material Etching

After-sales Service: 1 Year
Warranty: 1 Year
Type: Rie
Certification: CE
Etching Type: Double Spray
Precision: High Precision

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Informação Básica.

N ° de Modelo.
MD150-RIE
Condition
New
Marca Registrada
minder-hightech
Origem
China
Capacidade de Produção
100

Descrição de Produto


Sistema de gravação de iões reactiva
RIE
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
Materiais aplicados:
Camada de passivação: SiO2, SiNx
Backsilicone
Camada adesiva: Castanho
Orifício de passagem: W

Característica: 1. Gravação de camada de passivação com ou sem orifícios; 2. Gravação de camada adesiva; 3. Gravação de silicone traseira


Configuração do projeto e diagrama da estrutura da máquina
Item MD150-RIE MD200-RIE MD200C-RIE
Tamanho do produto ≤ 6 polegadas ≤ 8 polegadas ≤ 8 polegadas
Fonte de alimentação RF 0 - 300 W / 500 W / 1000 W correspondência automática e ajustável
Bomba molecular -/620 (L/s)/1300 (L/s)/Personalizado Antiseptic620 (L/s)/1300 (L/s)/Personalizado
Bomba da linha de alimentação Bomba mecânica/bomba seca Bomba seca
Pressão do processo Pressão descontrolada/pressão controlada 0-1Torr
Tipo de gás H/CH4/O2/N2/AR/SF6/CF4/
CHF3/C4F8/NF3/PERSONALIZADO
(Até 9 canais, sem gás corrosivo e tóxico)
H2/CH4/O2/N2/ar/F6/CF4/CHF3/C4F8/NF3/Cl2/BCl3/HBr (até 9 canais)
Gama de gases 0 ~ 5 cm/50 cm/100 cm/200 cm/300 cm/500 cm/personalizado
Bloqueio da bagageira Sim/não Sim
Controlo do sistema de amostragem 10 ° C ~ Quarto tem /- 30 ° C ~ 100 ° C / Personalizado -30 ° C ~ 100 ° C / Personalizado
Arrefecimento de hélio de volta Sim/não Sim
Processar o revestimento da cavidade Sim/não Sim
Controlo do sistema de parede de cavidade No/Roomtem ~ 60 / 120 ° C Quarto tem -60/120 ° C
Sistema de controlo Automático/personalizado
Material de gravação Baseado em silício: Si/SiO2/SiNx ···
IV-IV: SiC
Materiais magnéticos/materiais de liga
Material metálico: Ni/Cr/Al/Au.....
Material orgânico: PR/PMMA/HDMS/orgânico
filme ......
Baseado em silício: Si/SiO2/SiNx ......
III-V(3): InP/GaAs/GaN ......
IV-IV: SiC
II-VI(3): CdTe ......
Materiais magnéticos/materiais de liga
Material metálico: Ni/Cr/A1/Au ......
Material orgânico: PR/PMMA/HDMS/película orgânica...

Resultado do processo
Gravação de material à base de silicone
Materiais baseados em silicone, padrões de nano-impressão, matriz
padrões e ajuste do padrão da objetiva
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
INP. Temperatura normal de gravação
Gravação de padrões de dispositivos baseados em InP utilizados na comunicação óptica, incluindo estrutura de guia de ondas, estrutura de crista de cavidade ressonante, etc.
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
Gravação de material SIC
Adequado para dispositivos de micro-ondas, dispositivos de alimentação, etc.
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
Entortar físico, etching material orgânico tching
É aplicado à gravação de materiais difíceis de obter, como alguns metais (como Ni/Cr) e cerâmica, e o padrão de tching de materiais é realizado pelo bombardeamento físico. É utilizado para a gravação e remoção de compostos orgânicos Tal como o fotorsist (PR)/PMMA/HDMS/polímero
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching

Material de película cermet (Au/Ni/Cr/Al2O3)

 
 


Apresentação dos resultados da análise de falhas
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching

Especificação:
1. Evitar que as aparas voem
2. Nó mínimo que pode ser processado: 14nm;
3. Taxa de gravação de SiO2/SiNx: 50~150 nm/min;
4. Rugosidade da superfície Etched: < 1 nm;
5. Suportar camada de passivação, camada de adesão e gravação de silicone posterior;
6. Relação de seleção de Cu/Al: > 50
7.Máquina multifuncional CxLxA: 1300mmX750mmX950mm
8. Suporte à execução com um clique

Site do cliente:
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