1. Informações sobre o produto
MATS-2010M aplica-se para medir as propriedades magnéticas da folha elétrica de silício: Curva de magnetização e curva de perdas de PS, JM, HM, SS e AC. Pode também satisfazer os pedidos especiais de teste: Aço de silicone, permalloy, liga amorfa e nanoocristalina a 45 Hz ~ 1 kHz ou menos de 5 kHz, e também testar núcleos em forma excessiva e aplica-se à linha de produção.
2. Normas aplicadas
Métodos de medição GB/T 3655-2000 das propriedades magnéticas de Folha e tira de aço elétrico por meio de um Epstein estrutura
Métodos de medição GB/T 13789-2008 das propriedades magnéticas de folha magnética e tira por meio de uma única folha dispositivo de teste
Métodos de medição GB/T 3658-2008 de propriedades magnéticas de a. c. magneticamente materiais macios
IEC 60404-2 métodos de medição das propriedades magnéticas de Folha de aço elétrico e tira por mess de um Epstein estrutura
IEC 60404-3 métodos de medição das propriedades magnéticas de folha magnética e tira por meio de uma única folha dispositivo de teste
IEC 60404-6 métodos de medição de a. c. Propriedades magnéticas de magneticamente materiais macios
3. Principais características
1. Fonte de alimentação digital e placa A/D adoptadas em vez de fonte de alimentação analógica antiga, medidor de frequência, amperímetro, voltímetro e wattímetro.
2. Perfeitamente compatível com o sistema Windows, fácil de operar.
3. Amostras de ensaio: Aço de silício laminado a quente e a frio (orientado ou não), permalloy, liga amorfa e nanocristalina.
4. Forma da amostra: Amostras abertas de fita e chip, amostras em anel, forma e&U, etc., em circuito fechado.
5. As amostras de circuito aberto adoptam a Praça Epstein para formar um circuito magnético fechado, podendo também seleccionar o permeameter. A amostra de fechamento pode ser colocada sob medida de enrolamento direto, e o transformador acabado também pode ser colocado sob medida direta.
6. Um transformador sem carga incluía um núcleo de amostra, voltas de magnetização (N1) e voltas de medição (N2).
7.N1 conectado resistência não indutiva, para definir a corrente magnetizante, testando a tensão descendente da resistência não indutiva para obter a força do campo. Feedback de bloqueio do valor de pico por dígitos, a precisão do bloqueio de campo é de 0.5%.
8. Obter indução de fluxo através de análise digital da tensão N2, feedback de bloqueio do valor de pico por dígitos, precisão de bloqueio de indução é de 0.2%.
9. Fonte de alimentação e amplificador de amostragem integrados num único caso com interfaces simples: Um computador - ligue a interface RS232, sinal de tensão bidireccional ligado à placa A/D.
10. Utilizar voltametria e DDA para testar a propriedade magnética, como o loop de histerese dinâmica, PS, JM, HM, SS, μA, ângulo de perda, BR e HC.
11. Teste constantemente mais de 255 pontos, cada um deles custava 30 segundos, frequência fixa, bloqueio BM ou bloqueio dos modos HM opcionais.
4. Função do software
1. Combine perfeitamente com o Windows 7. Inglês e inglês - versão em chinês opcional. Fácil de utilizar.
2. Bloqueie BM ou bloqueie HM oprtioal, várias opções.
3. Funcionamento totalmente automático. Reconhecimento automático inteligente.
4. O processo de medição em tempo real pode ser suspenso a qualquer momento.
5. Cálculo automático. Ser capaz de fazer a conversão de resultados de acordo com a temperatura.
6. Formato de base de dados adotado, impressão direta ou resultados de teste de saída para Excel.
7. Função documento: Guardar dados, eliminar dados, remover dados completos, etc.
8. Os relatórios incluem dados completos de amostra, parâmetros de amostra, parâmetros do dispositivo e esquemas de teste. Formato de texto, fácil de imprimir.
9. Exibir curvas I(t), U(t), B(t) e loop de histerese B(H). As coordenadas de cada ponto nas curvas também podem ser exibidas.
10. Após agrupamento de múltiplos pontos, exibir o cluster de loop de histerese B(H), a curva de magnetização B(H), a curva de μA(H) e a curva de perda PS(B). As coordenadas de cada ponto nas curvas também podem ser exibidas.
11 . Ajuste a curva de magnetização B(H) e a PS(B) juntos em um gráfico, de fácil análise.
12. Definir limites de acordo com μA, PS, BM, BR, HC e HM. Defina e colora os resultados aprovados.
13. Suporte a vários tipos de impressoras. Os relatórios de teste correspondem perfeitamente à folha de impressão.
14. Pré-visualização da impressão, fácil de ajustar o tamanho e a margem dos relatórios.
15. Imprima relatórios diretamente ou converta o relatório em arquivo gráfico JPG.
16. Função de envio de e-mail incorporada.
17. Os relatórios de ensaio incluem gráficos de curva completa, resultados de ensaios, condições de ensaio e parâmetros de amostra. Versão em chinês e inglês alterável, capaz de adicionar informações de clientes.
7. Dados técnicos
1. De acordo com GB/T 3655-2000, inferior a 50 Hz. 60Hz., teste 30 × 300mm de aço ao silício por 25cm Epstein frame, relata como segue:
Parâmetros |
PS (%) |
SS (%) |
HRMS (%) |
BM (%) |
HM (%) |
Incerteza (2) |
1 |
1 |
2 |
1 |
2 |
Repetibilidade |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 1 |
± 0.5 |
± 1 |
Observações |
Bloquear BM: Não orientado BM ≤ 1.5T
Orientação BM ≤ 1.7T |
Bloqueio HM: Não orientado Hm ≥ 1000A/m
OrientedHm ≥ 500A/m |
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2. De acordo com a norma GB/T 13789-2008, em 50Hz, 60Hz, teste 500 × 500mm de aço ao silício por permeameter SST-500, relata o seguinte:
Parâmetros |
PS (%) |
SS (%) |
HRMS (%) |
BM (%) |
HM (%) |
Incerteza (2) |
1.5 |
1.5 |
2 |
1 |
3 |
Repetibilidade |
± 0.5 |
± 0.5 |
± 1 |
± 0.5 |
± 1 |
Observações |
Bloquear BM: Não orientado BM 0.8 ~ 1.5T
BM orientado 1.0 ~ 1,8T |
Bloqueio HM: Não orientado Hm ≤ 10000A/m
OrientedHm ≤ 1000A/m |
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3. De acordo com GB/T 3658-2008, a 50Hz ~ 1kHz, o teste permalloy apresenta os seguintes relatórios:
Parâmetros |
PS (%) |
SS (%) |
HRMS (%) |
BM (%) |
HM (%) |
Incerteza (2) |
3 |
2 |
- |
1 |
3 |
Repetibilidade |
± 1.5 |
± 1 |
± 1 |
± 0.5 |
± 0.5 |
Observações |
1. As amostras devem ser de anel fino, OD/ND < 1.25.
2. A desmagnetização antes do ensaio e a frequência da desmagnetização devem ser inferiores ou iguais à frequência do ensaio.
3. A incerteza é "-", significa que não há exigência na Norma Nacional. |
8. Parâmetros de hardware
Dados técnicos |
TAPETES - 2010M/K50 |
TAPETES - 2010M/K75 |
TAPETES - 2010 M/10 K. |
Máx. Potência de saída |
Onda sinusoidal de 500 VA |
Onda sinusoidal de 750 VA |
Onda sinusoidal de 500 VA |
Intervalo de frequência |
45 Hz ~ 1000 Hz |
400 Hz ~ 10 kHz |
Precisão da frequência |
1 Hz |
Erro de frequência |
< 0.05% |
Tensão de saída |
0 ~ 10 V ~ 50 V ~ 150 V ~ 300 V. |
0 ~ 10 V ~ 50 V ~ 80 V ~ 100 V. |
0 ~ 10 V ~ 50 V ~ 150 V ~ 300 V. |
Granulometria de tensão |
Controlo de programa 1 mV, painel < 0.1% × intervalo de corrente |
Factor de distorção de tensão |
Superior a 0.5% |
Estabilidade de tensão |
Superior a 0.02% |
Corrente de amostragem |
5 mA ~ 20 A. |
6,33mA ~ 20A |
Tensão de amostragem |
100 mV ~ 400 V. |
1 V ~ 316 V. |
Máx. Tensão |
300 V. |
100 V. |
300 V. |
Máx. Atual |
10 A. |
15 A. |
10 A. |
Materiais de medição |
laminagem a quente, materiais de aço de silício laminante a frio, permalloy, cristal amorfo e nm. |
Forma da amostra |
Amostras abertas de fita e chip, amostras de fecho toroide, e e U. |
Tamanho da amostra |
Para a estrutura Epstein: 30 mm x (280 mm ~ 300 mm)
Para Permeameter SST-500: 500 mm x 500 mm
Para Permeameter personalizado: Decidido pelo Permeameter
Para amostras de fecho e e U, sem limitação física, o tamanho afecta o campo H máx., |
Precisão (PS) |
1% (50 Hz, fotograma Epstein) |
1.5% (50 Hz, Permeameter) |
3% (10 kHz, anel) |
Tempo de teste |
30 s. |
30 s. |
12s |
Temperatura de funcionamento |
23 ± 5ºC |
Cartão a/D. |
PLACA PC6111 A/D. |
PLACA PC6112 A/D. |
PLACA A/D PC6684 |
Taxa de amostragem |
/ |
/ |
40 MHz x 2 canais |
Tempo de conversão |
≤ 2.5μs (cada canal) |
≤ 2.5μs (cada canal) |
/ |
Resolução e linearidade |
12 bits ± 1 LSB |
16 bits ± 1 LSB |
12 bits ± 1/2 LSB |
Gama de tensão |
± 5 V ~ ± 10 V (gama completa) |
± 5 V ~ ± 10 V (gama completa) |
± 1 V (gama completa) |
Relógio de amostragem |
6 μs ~ 10 ms
Relógio de hardware |
6 μs ~ 10 ms
Relógio de hardware |
25 ns ~ 800 ns
Relógio de hardware |
Capacidade de armazenamento interno |
4 k bytes |
4 k bytes |
512 k bytes x 2 |
Estrutura do barramento |
Barramento PCI |
Barramento PCI |
Barramento PCI |
Computador e Software |
Computador, monitor LCD, impressora, software SMTest (inglês) |
Armário principal |
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Fonte de alimentação |
220 v 50 / 60 Hz, 10 A. |
220 v 50 / 60 Hz, 15 A. |
220 v 50 / 60 Hz, 10 A. |
Dimensões |
60 x 49,5 x 19 cm |
60 x 49,5 x 19 cm |
60 x 49,5 x 19 cm |
9. Configuração padrão
TAPETES - 2010M/K50 |
TAPETES - 2010M/K75 |
TAPETES - 2010 M/10 K. |
TAPETES - Hiestéreos 2010M |
TAPETES - Hiestéreos 2010M |
TAPETES - Hiestéreos 2010M |
PLACA PC6111 A/D. |
PC 6112 PLACA A/D. |
PC 6684 PLACA A/D. |
Software de medição |
Software de medição |
Software de medição |
Computador |
Computador |
Computador |
Impressora |
Impressora |
Impressora |
Fotograma de Epstein |
Fotograma de Epstein |
Amostra padrão |
Amostra padrão quadrada |
Amostra padrão quadrada |
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Observações: 1. A configuração acima é a referência para clientes, prevalecerá a configuração final no contrato.
2. A mesa na foto NÃO está incluída na configuração.
3. A impressora é um acessório opcional, sem a impressora, podemos menos 200 USD do preço.
8. Acessório
Fotograma ES-700 Epstein
Em conformidade com a National GB/T3655-2000 e ser utilizado em conjunto com OS TAPETES - Hystereissgraph 2010M.
De acordo com as normas IEC404-2, a estrutura ES-700 Epstein é a base para medir as propriedades magnéticas de chapas e tiras de aço eléctricas; de CC para frequência de áudio (10 kHz), ou seja, a gama de frequências de utilização total da chapa de aço eléctrica. O princípio de medição das propriedades magnéticas de CC é o método balístico e o princípio de medição das propriedades magnéticas de CA é a voltametria.
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Item |
Descrição |
Circuito magnético equivalente |
940 mm |
Primário |
700 T |
Secundário |
700 T |
Tamanho da amostra |
30 mm × (280 ~ 300 mm) |
Máx. Massa da amostra |
1 kg |
Intervalo de frequência |
50 Hz ~ 1 kHz |