• Digitalização Electron Microscope Eco sem
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Digitalização Electron Microscope Eco sem

Ampliação: 20X~150, 000X
Tipo: Vídeo
Número de cilindro: Scanning Electron Microscope
Mobilidade: Tipo Bancada
Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
Tipo de Fonte de Luz: Ultraviolet

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Informação Básica.

N ° de Modelo.
DJ-SEM150
Forma
Lente em Forma de Tambor
Uso
Pesquisa
Princípio
Óptico
Princípio da Optics
Microscópio de Polarização
nome do produto
microscópio electrónico de exame dj-sem150
resolução
5 nm (30 kv, imagem em si)
tensão de aceleração
1 kv a 30 kv (1 kv/5 kv/10 kv/15 kv/20 kv/30 kv – 6 passos)
detector
detector se, detector opcional de eeb, eds, etc.
travessa de piso
sistema de 5 eixos ou controlo automático
deslocação da imagem
deslocação da imagem x, y deslocação da imagem ( ± 150 um)
Pacote de Transporte
Wooden Case
Especificação
460(W)*600(L)*950(H)mm
Marca Registrada
Dr. J Scientific
Origem
Jiangsu Wuxi
Código HS
9011800090
Capacidade de Produção
60

Descrição de Produto

Introdução geral:
A ampliação máxima do sem da série DJ-seM150 é de 150,000 vezes e a resolução é de até 5 nm (se, 30 kV). Está equipado com detector se (electrão secundário) e detector de EEB (electrões com dispersão posterior). A plataforma de carga pode ser configurada com três eixos (X, Y, R). A plataforma manual também pode ser atualizada para uma plataforma automática de cinco eixos (X, Y, R, Z, T). O analisador de espectro EDS pode ser configurado em todas as séries de produtos. Os produtos incluem as seguintes configurações:
 
Item Modelo Com opção de detector Com opção Stage
Mini-sem DJ-SEM150 DJ-SEM150S DJ-SEM150S-MS
DJ-SEM150D DJ-SEM150D-MS
DJ-SEM150D-ST
Scanning Electron Microscope Eco Sem
 
Descrição:
(1) ampliação máxima 150 000 x
(2) detecção de sinais: Detector se e detector de EEB
(3) Tensão de aceleração: 1kV a 30kV, alta resolução de imagem, alta resolução de imagem;
(4) equipado com 4 diafragmas de íris (30, 50, 50, 100μm), que podem fornecer imagens de alta resolução alterando o tamanho do feixe de electrões;
(5) o EDS é opcional para a análise de componentes
(6) a navegação por amostra CCD é opcional
(7) Configuração do Estágio de inclinação (0 ~ 90 °) (opcional)

Especificações:
Resolução 5 nm (30 kV, se)
Ampliação 20x ~ 150 000 x
Tensão de aceleração 1 ~ 30 kV
Detector Detetor SE, detetor opcional de EEB, EDS, etc.
Pistola de electrões Cartucho de filamento de tungsténio pré-centrado
Sistema de lente Lente de focagem: Lente de condensador eletromagnético de 2 estágios
Objetiva: Objetiva de objetiva eletromagnética de 1 fase
Fase Sistema de 3 eixos , X, eixo Y : 35mm / eixo R: 360 °
Platina de amostra opcional de 5 eixos: X: 40 mm, Y: 40 mm, Z: 40 mm, R: 360 °, T: 0 ~ 90 °
 Deslocação da imagem Deslocação da imagem X, Y deslocação da imagem  ( ± 150 um)
Diafragmas íris Diafragmas de íris ajustáveis (30/50/50/100μm)
Tamanho máximo da amostra 80 mm  de diâmetro, 35 mm  de altura
Sistema de digitalização de imagens Digitalização rápida : 320 * 240  digitalização lenta : 640 * 480
Modo de fotografia  1:1280 * 960   modo de fotografia  2:2560 * 1920  modo de fotografia  3:5120 * 3840
Função automática Início automático, focagem automática, brilho/contraste automático
Formato de imagem BMP, JPEG, PNG, TIFF
Apresentação dos dados de imagem Ampliação, tipo de detector, Tensão de aceleração, modo de vácuo, logótipo (texto), Data e hora, marcador de texto, barra de escala
Sistema de vácuo Modo de vácuo elevado, bomba mecânica, bomba molecular, tempo de aspiração: No espaço de 3 minutos
Volume do dispositivo 460 (L) * 600 (C) * 950 (A) MM
Ambiente do equipamento Temperatura: 15ºC ~ 30ºC , humidade: 70% ou menos
Fonte de alimentação: Monofásica de 100 ~ 240 V CA, 1 kW, 50 Hz


Embalagem e envio
Scanning Electron Microscope Eco Sem
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2007-10-16
Certificação de Sistema de Gestão
ISO9001:2015