Equipamento de espectrómetro de secretária com analisador XRF da China Espectrometria de fluorescência de raios X

• After-sales Service: Online Technical Support
• Application: Laboratory Apparatus
• Warranty: 1 Year
• Detection Method: Spectrophotometer
• Advantage: High Sensitive
• Principle: Classic Spectrometer
• N ° de Modelo.: DW-NP-5010
• Wavelengths: UV Spectrometer
• Dispersive Element: Interferometer Spectrometer
• Light Number: Monochromator
• Certification: CE
• Customized: Customized
• princípio de análise: análise de fluorescência de raios x dispersivos em energia
• gama de medição do elemento: qualquer elemento de na(11) -u(92)
• limite mín. de medição: cd/hg/br/cr/pb ≤ 2 ppm
• forma da amostra: tamanho arbitrário, qualquer forma irregular
• tipo de amostra: plástico/metal/película/pó/líquido, etc.
• alvo: seg
• diâmetro de exposição da amostra: 2, 5, 8 mm
• detector: detetor si-pin ou sdd
• gerador de alta tensão: gerador de alta tensão especial para fluorescência x.
• ADC: 2048 canais
• filtro: 6 filtros são automaticamente seleccionados e convertidos
• Pacote de Transporte: Standard English Package
• Especificação: 66*58*62cm
• Marca Registrada: Drawell
• Origem: China
• Código HS: 8419200000
• Capacidade de Produção: 20pieces/Month

Descrição de Produto

Analisador de metais de energia DW-NP-5010 análise de metais Espectrometria de fluorescência de raios X XRF

característica do produto

Introdução
A aplicação de energia dispersiva XRFtem uma ampla aplicação DW-NP-5010A. Pode fazer análises qualitativas, quantitativas e sem amostras. Como amostras de blocos, amostras de pó ou de líquidos, do 4º elemento da tabela periódica de berílio (be) ao 92o elemento urânio (U), quase todos os elementos podem ser analisados com precisão. A gama de concentrações analíticas pode variar entre 0.1 PPM e 100%, E mesmo até 100% da concentração elementar pode ser medida directamente sem diluição. O método de análise XRF tem as vantagens de uma preparação simples de amostras, uma vasta gama de elementos para determinação, elevada precisão de determinação, boa reprodutibilidade, velocidade de medição rápida (30s-900s), sem poluição ambiental e sem destruição de amostras.

Componente principal e parâmetros técnicos
1.si (PIN) ou detetor do sistema de diagnóstico guiado por sintomas (SDD)
A resolução do detector é um dos principais índices para avaliar o desempenho do espectrômetro de XRF dispersivo em energia.
Resolução < 145 eV (quanto menor a resolução, maior a sensibilidade).
Taxa de contagem > 1000/S
Área cristalina > 15 mm2
Espessura da janela de berílio : 0,025 mm
Potência do detector < 1,2W
2.  Analisador multicanal
Número de canais: 2048 canais
3. Controle de energia do Power Control System: 5 VCC a 250 mA (1.2 W)
Controle de resfriamento constante: 400 VDC
4.   Tubo de raios X.
A ampola de raios X, especialmente tratada com chumbo incorporado no interior, está protegida em toda a área, deixando apenas a janela lateral para a saída de raios X. O óleo isolante enlatado é usado para isolamento e resfriamento de alta tensão, janela de berílio de 0.005 polegadas, potência nominal de consumo de 50 W, potência nominal de 50 kV. vida de serviço concebida > 15 000 horas.
5.  Gerador de alta tensão
Entrada: 85 ~ 265VAC, 47 ~ 63Hz, Correcção do factor de potência.
1kV ~ 5kVcomply com a norma de entrada UL85 ~ 250VAC
Variação de tensão: 0.01% da tensão de saída de sem carga para plena carga
Variação de corrente: 0 ~ potência nominal, 0.01% da corrente de saída
Ondulação: Pico - pico da tensão de saída 0.25%
Variação de temperatura: Tensão ou regulação de corrente, 0.01%/^oC
Estabilidade: 0.05%/8h após o aquecimento durante meia hora
6.  Sistema de conversão automática de filtros
Os filtros são automaticamente seleccionados e convertidos (função de filtro: O componente do espectro de energia da linha de excitação pode ser melhorado para suprimir a fluorescência de raios X fortes dos componentes de elevado conteúdo e melhorar a precisão de medição dos elementos a medir.)
 

Especificações técnicas

 

Modelo			DW-NP-5010A
Princípio de análise			Análise de fluorescência de raios X dispersivos em energia
Gama de medição do elemento			Qualquer elemento de na(11)-U(92)
Limite mín. De medição			CD/Hg/br/Cr/Pb ≤ 2 ppm
Forma da amostra			Tamanho arbitrário, qualquer forma irregular
Tipo de amostra			Plástico/metal/película/pó/líquido, etc.
Tubo de raios X.	Material alvo		Seg
	Tensão do tubo		5 ─ 50 KV
	Corrente do tubo		1 ─ 1000uA
Diâmetro de exposição da amostra			2, 5, 8 mm
Detector			Detetor si-PIN ou SDD, sistema de análise da altura do impulso de alta velocidade
Gerador de alta tensão			Gerador de alta tensão especial para fluorescência X.
ADC			2048 canais
Filtro			6 filtros são automaticamente seleccionados e convertidos.
Observação da amostra			Câmara CCDCAMERA a cores de 200 ×
Software de análise			Produtos de software patenteados, actualização gratuita para toda a vida
Método de análise			Método teórico de coeficiente de α, método básico de parâmetro, método de coeficiente empírico
Tempo de análise			30 segundos, ajustável
Software do sistema operativo			WINDOWS XP
Sistema DATAPROCESSING		Anfitrião	Modelo de negócios de PC
		CPU	≥ 2,8G
		Memória	≥ 2 g.
		CD-ROM	8xDVD
		Disco rígido	≥ 500 G
		Visor	Visor LCD de 22" ou 24"
Ambiente de trabalho			Temperatura 10-35С C, humidade 30-70% HR

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