Estrutura do material de análise cristalina da película Máquina XRD Difractómetro de raios X.

• After-sales Service: Yes
• Warranty: 1 Year
• Detect Material: pó
• automático: semiautomático
• aplicação: pó ou película
• diâmetro: 1
• princípio: difração de raios x.
• comprimento: 100 to 800mm
• peso: menos de 20 kg
• Pacote de Transporte: Wooden Case
• Especificação: customized
• Marca Registrada: dd
• Origem: Dandong
• Código HS: 9099210000

Descrição de Produto

Difractómetro de raios X DX-27mini  
Drafter     da norma da indústria do difractómetro de raios X da China


 

Descrição geral

O difractómetro de raios X de bancada DX-27mini é de

uma análise de difração de pó multifunções

instrumento que especificamente concebido e

desenvolvido para produção industrial e qualidade

controlo. O DX-27mini oferece muito

design compacto, especialmente adequado para o catalisador,

dióxido de titânio, cimento, farmacêutico e

outras indústrias de fabricação de produtos.

Aplicação

 

Identificação de fases em amostras desconhecidas

 

Análise quantitativa de fases conhecidas em

amostras misturadas

Análise de Rieveld

  

 

Potência	Gerador de raios X de estado sólido: 600 W (40 kV, 15 mA). Fiabilidade: < 0.005%
Tubo de raios X.	Tubo de raios X cermet, alvo Cu, potência: 2,4 kW, foco: 1 x 10 mm Refrigeração a água (caudal de água > 2 L/min)
Goniómetro	Amostra de estrutura horizontal θs-θd
Raio do círculo de difração	150 mm
Gama de medição	-3 ~ 150 °
Modo de exame	Revisão, OMG
Ângulo de largura do passo mínimo	0.0001 °
Repetibilidade do ângulo	0.0005 °
Linearidade do ângulo de difração	< 0.02 ° (amostra padrão, dentro do espectro completo)
Detector	Detector proporcional fechado	Detector de matriz de semicondutores
Taxa de contagem linear máxima	5 × 105CPS	9 × 107CPS
Resolução energética	25%	1 keV
Dispersão da dose	1μSv/h (fora do dispositivo de protecção contra raios X)
Estabilidade abrangente	0.5%
Dimensões	640 × 480 × 770 (L × P × A) MM

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Comodidades


•    o gerador de raios X de alta frequência e alta tensão não só melhora a estabilidade  do instrumento, como  também assegura a repetibilidade dos  dados medidos.
•   os  braços do goniómetro θs e θd  são  accionados  pela       tecnologia de controlo de codificação óptica e servomotor. A  linearidade do ângulo de difração é inferior a 0.02 ° na gama de medição do ângulo de difração.
•      a protecção contra raios dispersos  é mais segura  e   fiável; a   porta de protecção contra radiações   proíbe automaticamente  a abertura quando a amostra é medida. Em qualquer caso, os operadores podem ser protegidos contra   radiação dispersa.
•   Configure a   ampola de raios X de cerâmica metálica mais avançada para garantir uma vida  útil longa .
•   o tamanho compacto  pode   ser montado    na bancada sem necessidade de  um ambiente laboratorial específico.  Utilize,  utilize e mantenha.
Software  de controlo XRD   e  THCMXPD


Pode executar o Windows 10 de 64 bits, controlar automaticamente o  difractómetro de raios X; recolher dados de difração para formASC
Arquivo de dados de código para salvar; processamento de arquivos de dados inclui:    Detecção automática de pico, detecção manual de pico, inten  - sidade integrada, altura de pico, centro de gravidade, subtração de fundo,  suavização, ampliação da forma do pico, desenho múltiplo,
cálculo de meia altura, impressão de espectro.


O software de processamento de dados de difração THCMXPD é     um software de processamento de dados XRD totalmente equipado, que pode concluir a  seguinte análise:
•    análise qualitativa da fase: Verificação rápida,  pesquisa de classificação, pesquisa de fase, análise de solução sólida.
•    análise quantitativa de fase:   A análise quan-tativa de adaptação ao espectro completo que não envolve estrutura cristalina é  um método inovador, e ao mesmo tempo,  o tamanho do grão de diferentes direções de cristal pode ser obtido

Aplicações
O DX-27mini pode ser adaptado de forma flexível à análise qualitativa e quantitativa de materiais policristalinos. Na  análise da condição-litativa, as medidas instrumentais são comparadas a bancos de dados de fase conhecidos para identificar desconhecidos
estruturas. Na análise quantitativa , as características da mistura sólida são utilizadas para determinar a relati-
teor de ve do  composto cristalino ou da fase não cristalizada.