Microscópio da força atómica para tipo de indústria de wafers
Descrição do produto
I. características
O primeiro microscópio de força atómica industrial em larga escala na China para alcançar a produção comercial
·O tamanho e o peso da amostra são quase ilimitados, tornando-a particularmente adequada para testar amostras grandes, como wafers, gratings ultra grandes e vidro óptico
·O estágio de amostra tem uma forte capacidade de expansão e é muito conveniente para a combinação de vários instrumentos para obter uma deteção in-situ
·Digitalização automática com um clique, capaz de programar vários pontos de teste para uma detecção rápida e automática
·Mantenha a amostra parada durante a digitalização da imagem e conduza a sonda para realizar a imagiologia de medição de movimento XYZ 3D
·Design da cabeça de digitalização da gantry, base de mármore, fase de adsorção a vácuo
·Soluções integradas de amortecimento mecânico de vibrações e protecção contra ruído ambiental em grande medida reduza os níveis de ruído do sistema
·Método inteligente e rápido de inserção de agulhas para detecção automática de cerâmica piezoeléctrica sob controlo de motores, protegendo sondas e amostras
·Editor de utilizador de correção não linear do scanner, com caracterização nano e precisão de medição superior a 98%
II Software
1. Dois tipos de pixel de amostragem para escolher: 256 × 256 , 512 × 512;
2. Execute a função de movimentação e corte da área de digitalização , escolha qualquer área interessante da amostra;
3. Analisar a amostra num ângulo aleatório no início;
4. Ajustar o sistema de detecção de pontos laser em tempo real;
5 . Escolha e defina diferentes cores da imagem de digitalização na paleta.
6. Suportar a calibração linear de média e desvio em tempo real para o título da amostra;
7. Suporte à calibração da sensibilidade do scanner e à calibração automática do controlador eletrônico;
8. Suporte à análise offline e ao processo da imagem de amostra .
Parâmetros do produto
Modo de trabalho |
Modo de contacto, toque em modo |
Z mesa de elevação |
Controlo da transmissão do motor passo-a-passo com um tamanho mínimo de 10 nm |
Modo opcional |
Força de fricção/força lateral, amplitude/fase, força magnética/força eletrostática |
Curso de elevação Z. |
20 mm (opcional 25 mm) |
Forçar curva do espectro |
Curva de força F-Z, curva RMS-Z. |
Posicionamento óptico |
OBJECTIVA óptica 10X |
Método de digitalização XYZ |
Exame XYZ acionado por sonda |
Câmara |
CMOS digital de 5 megapixels |
Gama de digitalização XY |
Superior a 100 × 100 um |
Velocidade de digitalização |
0,6 Hz ~ 30 Hz |
Ângulo de digitalização Z. |
Superior a 10 um |
Ângulo de digitalização |
0 ~ 360 ° |
Resolução de digitalização |
Horizontal 0,2 nm, vertical 0,05 nm |
Ambiente de funcionamento |
Windows 10 sistema operativo |
XY Plataforma de amostras |
Controlo da transmissão do motor passo-a-passo, com uma precisão de movimento de 1 A. |
Interface de comunicação |
USB2.0/3.0 |
XY Deslocar o movimento |
200 × 200 mm (Opcional 300 × 300 mm) |
Estrutura do instrumento |
Cabeça de exame da gantry, base em mármore |
Plataforma de carregamento de amostras |
Diâm. 200 mm (Opcional 300 mm) |
Método de amortecimento |
Cobertura acústica de absorção de choques flutuantes (plataforma opcional de absorção de choques activos) |
Peso da amostra |
≤ 20 kg |
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III Principais parâmetros técnicos
GSL construído em 2013. Nos últimos 9 anos, concentramo-nos em criar instrumentos para laboratórios e fábricas.
Fornecemos microscópio de força atômica para educação física normal e inspeção por wifer.
É a melhor relação custo-benefício AFM.
Fotos detalhadas
Porquê escolher-nos?
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