FM-Nanoview TACHPING High cost-Efficiency Atômica Force Microscope
FM-Nanoview 1000 Flyingman AFM Atomic Force Microscope
descrição do Produto
I. características
1. A cabeça de digitalização e o estágio de amostras foram projetados juntos, com um forte desempenho antivibração
2. A detecção de laser de precisão e o dispositivo de alinhamento da sonda tornam o ajuste do laser simples e fácil;
3. Adapte o servomotor para acionar a amostra aproximando-se da ponta manualmente ou automaticamente , para obter um posicionamento preciso da área de digitalização .
4. O dispositivo de transferência de amostras de grande precisão e grande alcance permite digitalizar qualquer área interessante da amostra ;
5. Sistema de observação óptica para verificação da ponta e posicionamento da amostra.
6. O sistema eletrônico foi projetado como modular e fácil de manutenção e desenvolvimento.
7. Adotar mola para isolamento de vibração , desempenho simples e bom .
II Software
1. Dois tipos de pixel de amostragem para escolher: 256 × 256 , 512 × 512;
2. Execute a função de movimentação e corte da área de digitalização , escolha qualquer área interessante da amostra;
3. Analisar a amostra num ângulo aleatório no início;
4. Ajustar o sistema de detecção de pontos laser em tempo real;
5 . Escolha e defina diferentes cores da imagem de digitalização na paleta.
6. Suportar a calibração linear de média e desvio em tempo real para o título da amostra;
7. Suporte à calibração da sensibilidade do scanner e à calibração automática do controlador eletrônico;
8. Suporte à análise offline e ao processo da imagem de amostra .
parâmetros do produto
III Principais parâmetros técnicos
| Item |
Dados técnicos |
Item |
Dados técnicos |
| Modos de funcionamento |
Modo de contacto, modo de fricção , modos de toque alargados, fase, MFM, EFM. |
Ângulo de digitalização |
Aleatório |
| Tamanho da amostra |
φ ≤ 90 mm, a ≤ 20 mm |
Movimento da amostra |
0 ~ 20 mm |
| Intervalo máx. De digitalização |
X/Y: 20 um , Z: 2 um |
Largura de impulso do motor que se aproxima |
10 ± 2 ms |
| Resolução |
X/Y: 0.2 nm , Z: 0,05 nm |
Sistema óptico |
Ampliação: 4X, resolução: 2.5 um |
| Velocidade de digitalização |
0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
Pontos de dados |
256 × 256,512 × 512 |
| Controlo de exame |
XY: D/A DE 18 BITS , Z: D/A DE 16 BITS |
Tipo de feedback |
Feedback digital DSP |
| Amostragem de dados |
Um A/D de 14 bits e um canal múltiplo A/D duplo de 16 bits simultaneamente |
| Ligação ao PC |
USB2.0 |
Taxa de amostragem de feedback |
64.0KHz |
| Windows |
Compatível com Windows98/2000/XP/7/8 |
GSL construído em 2013. Nos últimos 9 anos, concentramo-nos em criar instrumentos para laboratórios e fábricas.
Fornecemos microscópio de força atômica para educação física normal e inspeção por wifer.
É a melhor relação custo-benefício AFM.
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