• Máquina de teste de deformação do substrato da placa
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Favoritos

Máquina de teste de deformação do substrato da placa

After-sales Service: 1 Year
Warranty: 1 Year
Beam Color: Vermelho
Linha horizontal: 1
Linha vertical: 1
repetibilidade: 0,003 mm

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Fornecedores com licênças comerciais verificadas

Fabricante / Fábrica
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Visão Geral

Informação Básica.

N ° de Modelo.
ITN-L1-540A
Pacote de Transporte
Wooden Box Package
Especificação
L*W*H=1670*1470*1950mm
Marca Registrada
GIEZHY
Origem
Guangzhou China
Código HS
9015400000
Capacidade de Produção
1000

Descrição de Produto

 
Descrição do produto

https://giezhy.en.made-in-china.com/company-Guangzhou-GIEZHY-Measurement-Technology-Co-Ltd.html


Wafer Substrate Warping Test Machine
Características do instrumento
:

  Este equipamento analisa e aponta a superfície da peça de trabalho através da sonda laser de alta precisão importada para obter os dados de contorno da superfície da peça de trabalho para construir o mapa de nuvens do ponto de contorno 3D e, em seguida, calcula a planura e a deformação,
 
1. A planeza e a deformação podem ser feitas para um único produto ou vários produtos
2. Modo de medição do lote da linha de produção e modo de medição da amostragem.
3. O valor de monitorização da planura e da deformação pode ser predefinido e o alarme pode ser activado se a tolerância estiver fora da tolerância
4. Os dados de medição te podem ser exportados PARA EXCEL.
5. Apresentação de programa de medição editável e programa editável.

De acordo com o tamanho real do produto, para colocar um único pedaço de produto ou vários pedaços de produto de teste


Wafer Substrate Warping Test Machine
Wafer Substrate Warping Test Machine
Wafer Substrate Warping Test MachineCenário de aplicação
Wafer Substrate Warping Test Machine
Wafer Substrate Warping Test Machine




Nosso certificado

Wafer Substrate Warping Test Machine


Parâmetro técnico:

 
Número do modelo ITN-L1-320 ITN-L1-540
Função principal do equipamento Medição de planura e deformação
DIMENSÕES TOTAIS (C * L * A) 1220x700x1200 mm 1200 * 1000 * 1500 mm
A medir curso X, Y: 200 * 300 mm X, Y: 400 * 500 mm
Medição de tipos de produtos Podem ser testados produtos transparentes e não transparentes
Repetibilidade Planeza: ≤ 3 (peças padrão)
Método de carga e descarga Carga e descarga manuais (ou mão do robô)
Velocidade do ciclo 250 mm/s
Sistema de medição a laser Fabricado no Japão
Peso 450 kg 500 kg
Rolamento de carga 20 kg
software GIEZHY software de medição
computador incluído
Avaliação de consumíveis Rato, teclado, interruptor fotoeléctrico, interruptor de alimentação
Pessoa de operação 1 pessoa
Ambiente de trabalho AC220V ± 10%, 50Hz; consumo de energia: 2000W; temperatura: 22 ± 2ºC; umidade: 45-75%



Embalagem e transporte
Quatro protecções e protecção múltipla
O peso do volume de um único produto é demasiado grande e o volume será grande. Se for componente extra uma caixa de produtos, há regulamentos, o peso não deve exceder 20 a 25kg. E caixas de papelão de watt duplo podem geralmente carreg ele. A embalagem, especialmente a caixa exterior, tem uma certa função para proteger o produto. Tem uma distribuição razoável no transporte de fichas, armazém e tansportation para proteger totalmente os produtos.


Wafer Substrate Warping Test Machine


Envio
• em geral, utilizamos o International Express, DHL, UPS, FEDEX, EMS, TNT, etc.
• Ordem grande: Por ar ou mar, você deve escolhê-lo.
• se você tem seu próprio forwarder, por favor nos diga a informação detalhada.


Wafer Substrate Warping Test Machine














 

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Fabricante / Fábrica
Capital Registrada
500 RMB
Área da Planta
1001~2000 Metros Quadrados