EDX8600H espectrômetro de fluorescência de raios X
EDX8600H absorve todas as vantagens de EDX series e está equipado com sistema de vácuo, de forma que ela expande o escopo de testes, melhora o limite de detecção e melhora a estabilidade de dados.
Recursos do produto
1. O detector de tração de silício importado da América Latina com maior resolução de energia em grande medida melhora a detecção.
2. Limite de elementos de luz que é 100 vezes maior que a do Si-pino detector. Âmbito de medida é mais amplo que quase pode atender a requisitos de análise do elemento de todos os materiais convencionais.
3. Integração do sistema de processamento de dados importados da América Latina facilita a aquisição de dados mais rápido e mais estável de medição com excelente repetibilidade e longo tempo de estabilidade.
4. O software atualizado integrar vários métodos computering imagem torna a medição de dados mais precisos e estável.
5. Todo o software monitora as peças do núcleo executando garante uma operação segura.
6. Sistema de vácuo especializado oferece melhor desempenho de vácuo e excelentes resultados de testes.
| Parâmetro técnico |
| Elementos analisáveis |
Na-U |
| Gama analisáveis |
1PPm-99.99% |
| Tempo de medição |
100-300 s ajustável |
| Os elementos prejudiciais RoHS Limite Máx. |
Cd/Pb/Cr/hg/BR/2PPM |
| Resolução de energia |
149±5eV |
| Temperatura Ambiente |
15-30C |
| Fonte de Alimentação |
220V±5V aconselha estabilizador AC opcional |
Fornecedor Auditado 
Fornecedor Auditado 
