• Caixa de força atómica microscópio com Certificado ISO
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Favoritos

Caixa de força atómica microscópio com Certificado ISO

Ampliação: 100-500X
Tipo: microscópio de força atômica
Número de cilindro: No
Mobilidade: Tipo Bancada
Stereoscopic Effect: Stereoscopic Effect
Tipo de Fonte de Luz: Laser

Contatar Fornecedor

Tour Virtual 360 °

Membro Diamante Desde 2015

Fornecedores com licênças comerciais verificadas

Avaliação: 5.0/5
Fabricante / Fábrica, Empresa Comercial, Cooperação do Grupo
  • Visão Geral
  • descrição do Produto
  • Fotografias detalhadas
  • parâmetros do produto
  • Embalagem e envio
  • Perfil da empresa
  • Certificações
  • Perguntas mais frequentes sobre
Visão Geral

Informação Básica.

N ° de Modelo.
AFM-1000
Forma
Bola, Hemisfério
Uso
Pesquisa
Princípio
Óptico
Princípio da Optics
Microscopia de contraste de fase
item
microscópio de força atômica
movimento da amostra
15 x 15 mm
intervalo máx. de digitalização
X/Y: 50 Um, Z: 5 Um
resolução
x/y: 0.2 nm, z: 0,05 nm
sistema óptico
ampliação: 10x, resolução: 1um
velocidade de digitalização
0.6 hz ~ 4.34 hz
Pacote de Transporte
1 Set/Sets
Especificação
ISO, CE
Marca Registrada
NANBEI
Origem
Henan, China (Mainland)
Código HS
9012100000
Capacidade de Produção
500 Set/Sets a Month

Descrição de Produto

descrição do Produto

Caixa de força atómica Microscópio

Tudo em um design inteligente, estrutura e de forma.cabeça de digitalização e fase de amostra são projetados em conjunto, forte anti-desempenho vibração .Precision Detecção laser probe e dispositivo de alinhamento fazer ajuste do laser simples e fácil.Adaptar actuador para impulsionar a amostra se aproximando dica manualmente ou automaticamente, para realizar a verificação de precisão de posicionamento da área.Alta precisão e a vasta gama de amostra do dispositivo de transferência de permitir a leitura de qualquer área interessante da amostra ;diferentes tipos de scanner que atenda às diferentes necessidades do cliente na precisão e tamanho de leitura óptica;sistema de observação para verificação de ponta e posicionamento da amostra.observando o CCD sistema de tempo real área de amostra observando e posição;Usar actuador para alcançar o CCD focagem automática do sistema eletrônico é concebido como o modular e fácil para a manutenção e o desenvolvimento.integrado com muitos modos de trabalho electrónica de comando para o desenvolvimento ulterior.
 
Software de fácil utilização e funções
1.diversos canais imagens são capturar e exibir síncrona, observe o mapa de perfil em tempo real.
2.Obter e medir muitas curvas como F-Z f-RMS, RMS-Z
3.Execute a área de digitalização se mover e função de corte, escolha qualquer área interessante da amostra.
4. Amostra de leitura aleatória em ângulo no início.
5. Ajuste o feixe de laser do sistema de detecção em tempo real.  
6. Pesquise a frequência de ressonância dica manualmente ou automaticamente.
7. Escolher e definir cores diferentes de digitalização de imagens na paleta.
8. Apoio Média linear e a calibração do offset em tempo real para o título de amostra.
9. Apoiar a sensibilidade do scanner e calibração do controlador eletrônico de calibração automática.
 

Fotografias detalhadas

Automatic Atomic Force Microscope with ISO Certificate

parâmetros do produto

Principais  parâmetros técnicos


O ponto

 Dados técnicos

O ponto

 Dados técnicos

 Modos de Operação

 Modo de contato, tocando em Modo,  
Fase, fricção, MFM, EFM

 Ângulo de leitura

0~360 °

 Tamanho da Amostra

Φ≤ 90 mm;H≤ 20 mm

 O movimento de amostra

0~20 mm

Max.  faixa de digitalização

X/Y: 50 um Z: 5 um

 Largura do Pulso  
  Motor de aproximação

10±2 ms

Resolução

X/Y: 0,2 nm, Z: 0,05Nm

 Sistema óptico

Ampliação: 10X,  
Resolução: 1um

 Taxa de leitura

0,6 Hz~4,34 Hz

 Pontos de dados

256×256,512×512

 Controle de digitalização

XY: 18-bit D/A, Z: 16-bit D/A

 Tipo de Feedback

DSP  feedback digital

 Recolha de dados

Um 14 bits A/D e a dupla 16 bits A/D vários canais em simultâneo  

 A amostragem de Feedback
 Rate

64.0KHz

 Ligação a PC

Suporte para USB2.0

O Windows

Compatível com  
O Windows98/2000/XP/7/8

Aplicação
Automatic Atomic Force Microscope with ISO CertificateAutomatic Atomic Force Microscope with ISO Certificate
 

Embalagem e envio

Automatic Atomic Force Microscope with ISO Certificate

Perfil da empresa

Automatic Atomic Force Microscope with ISO Certificate

Certificações

Automatic Atomic Force Microscope with ISO Certificate

Perguntas mais frequentes sobre

Perguntas mais frequentes sobre
Q1: porquê escolher NANBEI ?
(1).fabricante profissional com mais de 13 anos de experiência
(2).exportado para mais de 97% de terceiros
(3).A solução Turnkey nenhum problema

Q2:OEM ODM,aceitáveis ou não?
Absolutamente Sim

Q3: Qual é o tipo de condições de pagamento para o cliente escolher?
T/T ,a Western Union, branqueamento de grama, Cartão de Crédito, Paypal , L/C ...

Q4:podemos visitar sua fábrica online?
Absolutamente nenhum problema

Q5:Pode online vídeo inspeção antes da expedição?
Absolutamente nenhum problema

Q6: Qual é a quantidade mínima de ? Ordem de amostra está OK?
Quantidade mínima de:1 conjunto, amostra de modo nenhum problema

Q7: Qual é o tipo de envio para o cliente escolher?
Geralmente são enviados por via marítima, por via aérea, pelo International Express .
Também podemos fornecer soluções razoáveis de acordo com seus requisitos de transporte

Q8:como para garantir a qualidade do produto e serviço pós-venda?
Temos marcação, ISO certificado de qualidade e a SGS autenticação.

serviço pós-venda:
1.Garantia : 1 ano
2.Fornecemos parte livre para o problema de qualidade na garantia
3.longa vida suporte técnico e serviço

 

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Avaliação: 5.0/5
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Certificação de Sistema de Gestão
ISO 9001, ISO 9000, ISO 20000, HSE
Termos de Pagamento
LC, T/T, D/P, PayPal, Western Union, Pagamento de pequena quantia, Money Gram, Outras