• Espectrofotómetro visível UV SCITEK de 190 nm com sistema de feixe duplo
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Favoritos

Espectrofotómetro visível UV SCITEK de 190 nm com sistema de feixe duplo

After-sales Service: 24-hour online service,free accessories
Aplicação: Aparelhos de laboratório
Garantia: > 1Ano
Método de Detecção: Espectrofotômetro
Vantagem: Alta resolução
Princípio: Espectrômetro Clássico

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Fabricante/Fábrica & Empresa Comercial
Membro de Ouro Desde 2023

Fornecedores com licênças comerciais verificadas

Avaliação: 5.0/5
Shandong, China
Importadores e Exportadores
O fornecedor tem direitos de importação e exportação
Serviços OEM
O fornecedor fornece serviços OEM para marcas populares
Certificat de gestion
O fornecedor possui certificação do sistema de gestão da qualidade, incluindo:
ISO9001:2015 certificate
ISO45001:2018 certificate
ISO14001
Certificação de Produto
Os produtos do fornecedor já possuem qualificações de certificação relevantes, incluindo:
CE
para ver todos os rótulos de força verificados (21)
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Visão Geral

Informação Básica.

N ° de Modelo.
SP-DUV8000/SP-DUV8000I
Comprimentos de onda
UV VIS Spectrometer
Certificação
ISO9001, CE, ISO 9001/14001/45001
Personalizado
Personalizado
largura de banda (nm)
1.8 nm/0.5, 1.0 2.0, 4.0nm
gama de comprimento de onda
190 nm
requisitos de energia
ac220v/50hz ou 110v/60hz
detector
fotodíodo de silicone
porta de saída de dados
usb
Pacote de Transporte
Standard Export Package
Especificação
SP-DUV8000/SP-DUV8000I
Marca Registrada
SCITEK
Origem
China
Código HS
9027300090
Capacidade de Produção
100 Units/Months

Descrição de Produto

Descrição do produto
SCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible Spectrophotometer
  1. Sistema de feixe duplo, detectores duplos, utilização de grelha importada de alto desempenho, luz dispersa mais baixa, mais fiável, estável, análise e mais precisa

  2. Equipado com ecrã táctil de 10 polegadas, memória incorporada de 32 G, suporte para ligação Bluetooth

  3. A estrutura principal incorporada pode introduzir a curva de calibração

  4. Adota o design da suspensão do sistema ótico, com uma base não deformável de alumínio de 16 mm de espessura para evitar a deformação.

  5. A poderosa função de armazenamento pode ser ligada directamente à impressora para impressão de dados e gráficos em formato A4

  6. Com função de arranque automático, calibração e função de posicionamento do sistema.

  7. Pode exportar dados para o disco U.

 
Parâmetros do produto
Modelo SP-DUV8000 SP-DUV8000I
Gama de comprimento de onda 190 nm
Largura de banda espectral 1.8 nm 0.5, 1.0 2.0, 4.0nm
Precisão do comprimento de onda ± 0,1 nm (D2 656,1 nm), ± 0.3 nm de alcance total
Luz dispersa 0.03% T @ 220 nm, 360 nm
Repetibilidade do comprimento de onda ≤ 0,1 nm
Precisão fotométrica ± 0,2T (0-1009% T)
± 0,002Abs (0 - 0,5Abs)
± 0,004Abs (0.5-1,0Abs)
Repetibilidade fotométrica ≤ 0.05% 6T (0-100% 6T)
0,001Abs (0 - 0,5Abs)
0,002Abs (0.5-1,0Abs)
Estabilidade ± 0,0004A/h @ 500 nm
Gama fotométrica 0-200% T, -0.3-3.0A, 0-9999C
Planeza da linha de base ± 0,001A
Ruído ± 0,0004A
Visor ecrã táctil 800x480
Porta de saída de dados USB
Porta de impressão Porta USB
Requisitos de energia AC220 V/50 Hz ou 110 V/60 Hz
Detector Fotodíodo de silicone
Tamanho (L × P × a) (mm) 630x430x210
Tamanho de envio (L × P × a) (mm) 850 x 650 x 450
N. W./G.W. (kg) 28/38
 
Certificações

SCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible Spectrophotometer

Perfil da empresa

SCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible Spectrophotometer

Nossas vantagens

SCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible Spectrophotometer

Embalagem e envio

SCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible Spectrophotometer

PERGUNTAS FREQUENTES

SCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible SpectrophotometerSCITEK Dual-beam system 190-1100nm UV Visible Spectrophotometer

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Avaliação: 5.0/5
Fabricante/Fábrica & Empresa Comercial
Área da Planta
1291 Metros Quadrados
Certificação de Sistema de Gestão
ISO9001:2015, ISO14001:2015